【技术实现步骤摘要】
一种继电器常开和常闭触点转接选通方法
本专利技术涉及继电器
更具体地，涉及一种继电器常开和常闭触点转接选通方法。
技术介绍
通常情况下，测试两点之间的电阻，需要两只继电器，如果任意一只继电器故障，则测试会不正常。目前多采用并联设计或者串联设计。如果采用并联设计，如图1所示，对于触点不闭合失效模式，此种设计方法可以提高为原来可靠性的2倍，但是对于触点一直闭合失效模式，此种设计方法降低为原来可靠性的1/2。如果采用串联设计，如图2所示，对于触点一直断开失效模式，此种设计方法可以提高为原来可靠性的2倍，但是对于触点不断开失效模式，此种设计方法降低为原来可靠性的1/2。因此，需要提供一种新的继电器转接选通方法以保证继电器触点选通的准确性和可靠性。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种继电器常开和常闭触点转接选通方法，以提高继电器常开和常闭触点转接选通的效率。为了实现以上目的，本专利技术采用以下技术方案：一种继电器常开和常闭触点转接选通方法，采用多个继电器串并联结合的连通方式。优选地，多个继电器并联组成并联组，多个所述并联组进行串联。本专利技术一个实施例中，多个继电...
【技术保护点】
1.一种继电器常开和常闭触点转接选通方法，其特征在于，该方法采用多个继电器串并联结合的连通方式。
【技术特征摘要】
1.一种继电器常开和常闭触点转接选通方法，其特征在于，该方法采用多个继电器串并联结合的连通方式。2.根据权利要求1所述的继电器常开和常闭触点转接选通方法，其特征在于，多个继电器并联组成并联组，多个所述并联组进行串联。3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：李景须，吕绍星，
申请(专利权)人：北京电子工程总体研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。