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本申请适用于DDR SDRAM技术领域，提供了一种DDR电路的仿真方法、系统及走线结构，其中仿真方法包括：对所述DDR电路进行布局布线设计，得到所述DDR电路的走线结构；其中，所述走线结构包括信号走线层和参考平面；确定所述信号走线层中阻抗值...
该专利属于OPPO（重庆）智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过OPPO（重庆）智能科技有限公司授权不得商用。

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