温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种闪存制备方法,包括:提供一具有逻辑区和存储区的衬底,所述存储区上形成有多个闪存栅极结构,每个所述闪存栅极结构包括隧道氧化层;在所述衬底以及多个闪存栅极结构上形成第一层多晶硅;采用硅酸乙酯在所述第一层多晶硅表面形成氧化硅保护层...该专利属于武汉新芯集成电路制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉新芯集成电路制造有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种闪存制备方法,包括:提供一具有逻辑区和存储区的衬底,所述存储区上形成有多个闪存栅极结构,每个所述闪存栅极结构包括隧道氧化层;在所述衬底以及多个闪存栅极结构上形成第一层多晶硅;采用硅酸乙酯在所述第一层多晶硅表面形成氧化硅保护层...