温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备：CCD(Charge Coupled Device)检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件...
该专利属于大塚电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过大塚电子株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。