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本发明提供一种存储器装置的测试方法，包括：根据块选择信号输出第一测试数据和第二测试数据；以及根据测试模式选择信号进入第一测试模式、第二测试模式和第三测试模式的任一者，其中，当进入第一测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一测试数...
该专利属于睿力集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过睿力集成电路有限公司授权不得商用。

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