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半导体加工用片制造技术
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文档序号:18418283
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本发明提供一种半导体加工用片1,其至少具备基材10、半导体贴附层80、及剥离膜30,基材10的第一面101的算术平均粗糙度Ra为0.01~0.8μm,在将基材10的第一面101与剥离膜30的第二面302的界面上的剥离力设为α,并将在半导体贴...
该专利属于琳得科株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过琳得科株式会社授权不得商用。
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