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本揭露提供一种用于测试半导体组件之系统，其包含一数据产生装置、一数据测试装置、及一数据处理装置。数据处理装置经组态以传送一第一命令至数据测试装置并在传送第一命令后传送一第一响应至数据产生装置。在接收第一响应之后，数据产生装置传送一第一数据至...
该专利属于台湾福雷电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾福雷电子股份有限公司授权不得商用。

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