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半导体装置的制造方法制造方法及图纸
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文档序号:17961203
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一种进行在半导体层(11)的厚度方向上形成沟槽(20)的沟槽蚀刻、形成隔着沟槽而彼此的侧壁(16a,18a)相对置的第一图案部(16)及第二图案部(18)这两个图案部的半导体装置的制造方法,沟槽蚀刻中,在半导体层的表面形成保护膜(4)并且将...
该专利属于株式会社电装所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社电装授权不得商用。
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