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系统、设备和方法可提供：识别存储器中将要被部分或完全擦除的NAND串的目标子块；以及在与目标子块关联的一个或多个目标选择栅漏极侧(SGD)装置中触发漏电流状况。另外，可在与存储器中的NAND串的剩余子块关联的一个或多个剩余SGD装置中抑制漏...
该专利属于英特尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过英特尔公司授权不得商用。

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