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本实用新型公开了一种新型半导体单晶片应力检测仪，其包括机箱，机箱的上端面左右两侧各设置一条x轴电控滑轨，两条x轴电控滑轨上横向设置有y轴电控滑轨，y轴电控滑轨通过其底部的x轴滑块与x轴电控滑轨滑动连接；y轴电控滑轨上设置有单晶片固定云台，单...
该专利属于北京华进创威电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华进创威电子有限公司授权不得商用。

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