下载基于SRAM的可自毁验证电路的技术资料

文档序号:17668208

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本揭露公开一种基于SRAM的可自毁验证电路。本揭露还提供一种存储器装置,其包括:存储器位阵列,其包含多个存储器位,其中各存储器位经配置以在所述存储器装置被电力开启时呈现初始逻辑状态;以及擦除电路,其耦合到所述存储器位阵列,且经配置以更改所述...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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