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本发明提出一种快速收集闪存阈值电压分布的方法，包括下列步骤：采用预先设定的快速扫描大步长在电压范围内进行顺序扫描；扫描过程中自动记录每步获得的闪存失效单元数；根据闪存失效单元数快速自动判断闪存存储单元阈值电压分布起始边界；自动转换至精确扫描...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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