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本公开涉及半导体装置及其诊断方法。提供了一种能够实现对非易失性存储器的开始时间诊断而无需任何外部装置和任何超出诊断目标的非易失性存储器的半导体装置。非易失性存储器包括由连续读取的地址形成的地址空间和在地址空间之后读取的由单个或多个地址形成的...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。

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