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一种半导体结构制造技术
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文档序号:17602728
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本实用新型提供一种半导体结构,包括:衬底、导电互连结构、绝缘被覆层、绝缘气封层及线路间绝缘气囊;所述绝缘被覆层形成于导电互连结构中线路结构暴露的表面,且在所述线路结构之间形成有沟槽;所述绝缘气封层形成于绝缘被覆层上,并闭所述沟槽的开口,以形...
该专利属于睿力集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过睿力集成电路有限公司授权不得商用。
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