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本发明涉及一种全程可溯源半导体测试数据记录方法，在芯片的非易失存储区写入芯片的唯一识别码；将唯一识别码和测试环节作为数据索引信息，将数据写入数据库中；通过识别码和测试环节可以在数据库中索引所有的测试数据，可以跟踪整个测试过程中产生的数据并加...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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