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使用存储器器件中的不同感测节点电压的验证操作制造技术
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下载使用存储器器件中的不同感测节点电压的验证操作的技术资料
文档序号:17396572
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存储器器件中的感测电路在感测过程中能够被预充电至不同的水平以减少用于感测的时间量。例如,在编程操作中,存储器单元处于快编程模式,直到它的阈值电压超过数据状态的偏移验证电压(VO)。偏移验证电压低于数据状态的最终验证电压(VF)。当阈值电压在...
该专利属于桑迪士克科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过桑迪士克科技有限责任公司授权不得商用。
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