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双重图形侧墙掩膜刻蚀工艺制造技术
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文档序号:17365047
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本发明涉及双重图像侧墙掩膜刻蚀工艺,包括以下步骤:在光刻胶图形上形成交联层;对交联层进行主轴刻蚀,形成主轴中间材料;对主轴中间材料进行原子层沉积,在主轴中间材料的顶部和两侧生长氧化膜层;消减主轴中间材料和氧化膜层的顶部,剩余中下部主轴中间材...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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