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一种游离磨粒轨迹检测方法，其特征在于该方法主要包括以下阶段：S1磨料染色阶段选用的磨料与研磨（或抛光）加工中采用的磨料相同，磨料表面先清洗，然后用紫外荧光染料对磨料进行染色。S2磨料加注阶段在研磨（或抛光）加工过程中在注入口注入检测浆料，在...
该专利属于南京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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