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本发明提供一种三维垂直型存储器读出电路及其读出方法，通过在所述读参考电流中引入位线寄生参数和位线上的漏电、字线上的漏电、垂直晶体管寄生参数、及读传输门寄生参数，以分别抵消所述半选通存储单元的位线寄生效应和位线上的漏电、字线上的漏电、第一垂直...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。

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