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本发明涉及一种压力传感器芯片的测试方法，使用该测试方法，在常温下，分别测试多个的被测压力传感器芯片工作压力范围内的第一输出电压；并对多个被测压力传感器芯片进行互不相同的老化处理；将老化处理后的多个被测压力传感器芯片均恢复至常温，分别测试工作...
该专利属于无锡华润上华科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润上华科技有限公司授权不得商用。

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