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在逻辑芯片中基于电压对比的错误及缺陷推导制造技术
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文档序号:16934320
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本发明揭示一种电压对比成像缺陷检测系统,其包含电压对比成像工具及耦合到所述电压对比成像工具的控制器。所述控制器经配置以:针对样本上的一或多个结构产生一或多个电压对比成像度量;基于所述一或多个电压对比成像度量而确定所述样本上的一或多个目标区域...
该专利属于科磊股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科磊股份有限公司授权不得商用。
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