下载半导体器件及其形成方法的技术资料

文档序号:16921284

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本发明的实施例公开了一种半导体器件以及形成半导体器件的方法。牺牲薄膜用于图案化对半导体结构的接触件,例如对晶体管的源极/漏极区的接触件。接触件可以包括沿平行于栅电极的轴线的锥形轮廓,以使在接触件远离源极/漏极区延伸时接触件的最外侧宽度减小。...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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