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使用深亚微米应力效应和邻近效应来产生高性能标准单元制造技术
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下载使用深亚微米应力效应和邻近效应来产生高性能标准单元的技术资料
文档序号:16662994
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根据一个一般方面,一种方法可以包括接收电路模型,该电路模型包括通过相应的单元所表示的逻辑电路。该方法可以包括提供对电路模型的定时调整。该提供可以包括:通过采用亚微米应力效应来确定作为用于调整的候选的一个或多个相应的单元,并且,对于每个候选,...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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