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本发明公开一种应用于芯片器件测试单元的MOS栅氧保护系统，包括电熔丝，电熔丝一端与待保护的MOS器件的栅极相连，另一端与保护二极管相连。WAT测试之前，通过将预设电压施加于待保护的MOS器件的栅极，熔断电熔丝，断开待保护的MOS器件栅极与保...
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