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本发明涉及一种改变探针卡探针阻抗值的方法，晶圆测试探针卡为一PCB板，中间挖空的正方形为测试区，放置晶圆，探针从探针卡上伸出到测试区，探针卡外圈均匀分布数个焊点，外圈焊点用于连接到测试机的相应资源，探针卡内圈有与外圈对应的焊点，内圈的焊点与...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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