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本发明提出一种双时域动态变频测试方法，包括下列步骤：在ATE上采用低速的参考频率，作为通信用频率；在ATE上通过BIST电路对芯片内部的PLL电路进行设置，产生并获取高频信号；通过计算获得外部时钟与内部高速时钟的同步等待时间，以及内部高速指...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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