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本发明涉及一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关，包括NMOS晶体管N1～N7、PMOS晶体管P1～P4、电容C1、电容C2和公共节点。本发明提出一自举开关电路，解决了传统自举开关存在衬偏效应，可靠性差，线型性能不好，输入信号范围窄等问...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十四研究所授权不得商用。

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