温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明的基板检查方法，对电路基板上形成的导体图案通过检查探针流过电流来测电特性值，基于该电特性值的测量值判定电路基板的合格与否，包括以下步骤：在测量值为容许范围内的情况下判定为合格，在没有被判定为合格的情况下反复进行测量，在测量次数达到了上...
该专利属于雅马哈精密科技株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过雅马哈精密科技株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。