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检测从旋转卡盘丢失的晶片制造技术
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文档序号:16113337
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本公开涉及用于检测何时微电子衬底不再被适当地固定或者从旋转卡盘丢失的系统和方法。微电子衬底可以固定至旋转卡盘,在处理室中的处理期间,当将衬底暴露于化学物质时,旋转卡盘可以使衬底旋转。旋转卡盘可以包括用于检测固定微电子衬底的夹持机构的位置的一...
该专利属于东京毅力科创FSI公司所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创FSI公司授权不得商用。
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