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本公开实施例涉及制造半导体元件的方法。此方法包括形成可流动材料层于基板之上。上述基板具第一区域及第二区域。第一区域中可流动材料层的上表面高于第二区域中可流动材料层的上表面。此方法亦包含形成多个沟槽于第一区域中的可流动材料层,并执行退火工艺以...该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。
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本公开实施例涉及制造半导体元件的方法。此方法包括形成可流动材料层于基板之上。上述基板具第一区域及第二区域。第一区域中可流动材料层的上表面高于第二区域中可流动材料层的上表面。此方法亦包含形成多个沟槽于第一区域中的可流动材料层,并执行退火工艺以...