温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种用于闪存的内建自测试电路、系统及方法，其中：所述自读取测试模块用于测试所述闪存的读取操作，并将读取测试结果发给所述命令转换模块；所述自擦除测试模块用于测试所述闪存的擦除操作，并将擦除测试结果发给所述命令转换模块；所述自编程测...
该专利属于武汉新芯集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉新芯集成电路制造有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。