专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
三星电子株式会社
>
检测非易失性存储器设备中的擦除失败字线的方法技术
>技术资料下载
下载检测非易失性存储器设备中的擦除失败字线的方法的技术资料
文档序号:15957693
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种用于操作非易失性存储器设备的方法首先包括向存储器单元供应擦除电压。存储器单元在三维结构的单元串中。该方法还包括执行存储器单元的第一读取操作,执行存储器单元的第二读取操作,然后基于第一和第二读取操作的结果执行第一擦除校验操作。第一擦除校验...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。