下载晶圆表面的键合方法及半导体器件的技术资料

文档序号:15879455

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本发明提供了一种晶圆表面的键合方法及半导体器件,所述晶圆表面的键合方法包括如下步骤:提供一衬底,所述衬底的上表面具有悬挂键;沉积介质层,所述介质层覆盖在所述衬底的上表面;沉积缓冲层,所述缓冲层覆盖在所述介质层上;进行热退火处理,使所述悬挂键...
该专利属于武汉新芯集成电路制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉新芯集成电路制造有限公司授权不得商用。

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