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文档序号:15824256
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本发明的目的在于提供一种提高在对不同种类的蚀刻对象膜进行蚀刻之际的基板的温度控制性和蚀刻的均匀性的蚀刻方法。一种蚀刻方法,其具有如下工序:第1工序,在该第1工序中,在晶圆的温度是-35℃以下的极低温环境中,从第1高频电源输出第1高频的电力,...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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