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一种示例性器件包括：在半导体衬底上方延伸的栅极堆叠件，设置在栅极堆叠件的顶面上的硬掩模，位于栅极堆叠件的侧面上的低k介电间隔件。低k介电间隔件的顶部低于硬掩模的上表面。该器件还包括电连接至邻近栅极堆叠件的源极/漏极区的接触件。接触件在低k介...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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