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一种适用于各类周期性测试算法的存储器内建自测试电路，其组成模块包括：内建自测试控制单元、时钟控制信号产生器、地址产生器、数据产生器、数据比较器、可选延时单元、及多个控制寄存器；控制寄存器包括：地址扫描寄存器、算法元素寄存器、算法操作寄存器、...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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