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本发明提出了一种控制待测芯片测试温度的装置和方法，通过在测试设备底座上安装温度传感器和温度检测电路，使温度传感器与温度检测电路相连，通过自动测试设备进行编程，自动获取待测芯片的实时温度，自动控制程序进程，保障测试温度符合测试要求，确保测试结...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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