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本发明提供一种单位格点几何信息提取方式，其通过提取密度参数、周长参数及权重线宽参数，以及采用提取平均分布几何中心，以有效表征单位格点内图形的分布中心，从而能够有效反映出单位格点内不同图形分布的平均影响距离，将影响格点平均分布中心与目标格点平...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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