专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
安徽三安光电有限公司
>
一种接触式测厚仪及晶片厚度测量装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种接触式测厚仪及晶片厚度测量装置的技术资料
文档序号:14101772
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种接触式测厚仪,至少包括:千分表、中空的套筒、测量杆和测量头,所述套筒贯穿千分表,所述测量杆的上部位于所述套筒内、下端连接测量头,所述测量杆于所述套筒内上下移动,其特征在于:所述套筒的顶端具有一调节所述测量杆上升高度的高度调节结构,所述套...
该专利属于安徽三安光电有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过安徽三安光电有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。