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一种半导体器件的测试模式电路，包括：测试模式激活信号发生单元，适用于响应于测试信号来产生测试模式激活信号；测试时钟发生单元，适用于响应于测试模式激活信号和控制时钟来产生多个测试时钟；测试控制信号发生单元，适用于基于控制信号输入循环的多个测试...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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