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本发明公开了通过在空间上和/或在时间上改变采样模式增强抗锯齿的技术。光栅单元配置为针对给定帧内的相邻像素生成不同的采样模式。此外，光栅单元可以调整帧之间的采样模式。光栅单元包括索引单元，其选择采样模式表用于当前帧使用。对于给定像素，索引单元...
该专利属于辉达公司所有，仅供学习研究参考，未经过辉达公司授权不得商用。

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