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一种嵌入式芯核测试壳装置及其设计方法制造方法及图纸
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下载一种嵌入式芯核测试壳装置及其设计方法的技术资料
文档序号:12623200
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本实施例所示的嵌入式芯核测试壳装置,包括:测试壳指令寄存器WIR、测试壳边界寄存器WBR、测试壳旁路寄存器WBY、测试壳选通器选择信号产生器MSG、第一选通器和第二选通器,MSG依据WIR输出控制信号中的信号序列,生成选通器选择信号序列,并...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。
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