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本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源模组，一载物台，一物镜，一第三凸透镜，一CCD及其控制器，一数据线以及一显示及处理单元依次，所述载物台具有一载物平面，其中，所述光源模组包括一光源，一第一光阑，一第一凸透镜，一第二光阑，及...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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