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本发明提出了一种基于液晶填充光子晶体微腔的电场测量方法。由宽谱光源1、传感单元2、信号处理单元3、光电探测器4、计算机5组成。其特点是传感单元2由光子晶体微腔组成，且液晶填充在光子晶体微腔的缺陷孔中。当外界电场的变化时，会引起液晶折射率的改...
该专利属于东北大学所有，仅供学习研究参考，未经过东北大学授权不得商用。

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