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本发明公开一种检测芯片的方法，其包含：提供多个芯片，包含至少一第一部分芯片；以及以一非人工方式判断每一个些多个芯片，包含提供一第一检测条件判断每一个些多个芯片，筛选出些第一部分芯片，其中些第一部分芯片通过第一检测条件，以及提供一第二检测条件...
该专利属于晶元光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶元光电股份有限公司授权不得商用。

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