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等离子体处理方法和等离子体处理装置制造方法及图纸
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文档序号:11053790
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当对多层膜进行蚀刻时,能够抑制弓形并进行蚀刻。使用包含HBr气体和C4F8气体的处理气体,多次执行等离子体蚀刻,由此,进行从SiN层(350)到叠层膜(340)逐渐形成凹部的蚀刻,此时,在规定的时刻,向处理气体中以规定流量比添加含硼气体,由...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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