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于金属氧化物半导体场效应晶体管中形成遮蔽栅极的方法技术
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下载于金属氧化物半导体场效应晶体管中形成遮蔽栅极的方法的技术资料
文档序号:11027495
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本公开涉及一种于金属氧化物半导体场效应晶体管中形成遮蔽栅极的方法,包括步骤:提供具有至少一沟渠的半导体基板;于该半导体基板的该沟渠内形成底层栅极氧化物区及遮蔽栅极多晶硅区;以高温等离子体沉积、多晶硅回蚀及氧化物回蚀于该遮蔽栅极多晶硅区上形成...
该专利属于台湾茂矽电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾茂矽电子股份有限公司授权不得商用。
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