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半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:10813510
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本发明公开了一种半导体器件,其包括衬底和衬底上的第一和第二栅电极。第一栅电极包括第一栅极绝缘膜和第一功能膜,第一栅极绝缘膜具有位于衬底上的底部和从底部延伸并远离衬底的侧壁部分,从而限定具有第一宽度的第一沟槽,第一功能膜填充第一沟槽。第二栅电...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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