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半导体装置及其制造方法制造方法及图纸
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文档序号:10489669
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提供一种抑制伸出状态的半导体芯片的引线接合时的裂缝和/或破裂等的发生的半导体装置。实施方式的半导体装置1包括:第1芯片群5,具备在电路基础材料2上装载的第1半导体芯片4;第2芯片群10,具备在第1芯片群5上层叠的多个第2半导体芯片9。第2半...
该专利属于株式会社东芝所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社东芝授权不得商用。
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