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本实用新型提出一种测试探针卡，在所述探针卡上具有多个探针，所述测试探针卡上还包括第一定位槽和第二定位槽，所述第一定位槽和所述第二定位槽的开口的形状不同。本实用新型测试探针卡采用定位槽代替现有技术中的定位孔，由于定位槽为非通孔，因此，杜绝了探...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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